Разработка доцента кафедры общей физики СарФТИ НИЯУ МИФИ, кандидата физико-математических наук Максима Евгеньевича Докукина легла в основу методики, применяемой ведущими производителями научного оборудования в области исследований материалов на наномасштабе.
Исследования велись на базе Tufts University (США, штат Массачусетс) с 2015 года.
Разработанный М.Е. Докукиным и Prof. Igor Sokolov (Tufts University) новый, более быстрый метод получения изображения мягких материалов на наномасштабе был представлен компаниями Nanoscience Solutions Inc. и Bruker Corporation.
https://www.bruker.com/en/products-and-solutions/microscopes/materials-afm/afm-modes/ringing-mode.html
Новый метод, названный «Ringing mode», основан на уже существующем субрезонансном режиме. Этот метод не только открывает доступ к восьми новым типам данных, но и даёт возможность получать изображения механических свойств мягких материалов до 20 раз быстрее, с большим пространственным разрешением (https://www.nature.com/articles/s41598-017-12032-z ).
Благодаря неоспоримым достоинствам этот метод уже нашел применение в изучении структуры и наномеханических свойств различных мягких образцов, таких как многокомпонентные полимеры, клетки, ткани, а также биоорганические соединения. «Ringing mode» позволяет не только получать новые данные в области нанокомпозитов, но и совместно с использованием методов машинного обучения может ускорить обнаружение рака (https://www.pnas.org/content/115/51/12920 ).
Применение этого метода позволяет расширить возможности атомно силовой микроскопии для количественной оценки новых характеристик материалов на ранее недоступном масштабе.
Желаем дальнейших исследовательских разработок и интересных идей, научного признания и практического применения!
Справочно
NanoScience Solutions, Inc. — нанотехнологическая компания, поставщик высокотехнологичных инструментов и систем для исследований и промышленности. Bruker Corporation — один из крупнейших производителей научных приборов для молекулярных и материаловоёмких исследований, а также для промышленного и прикладного анализа.