Статья ученых Саровского физико-технического института НИЯУ МИФИ Б.А. Красильникова, А.А. Евстифеева, Д.Б. Николаева, А.А. Казакова «Оценка применения источников электромагнитного излучения в качестве источника сигнала в техническом канале утечки информации» опубликована в последнем выпуске научного журнала «Безопасность информационных технологий» (БИТ, № 2-2026).
Целью исследования является разработка метода оценки компонентов технических систем (ТС), как источников сигнала (электромагнитного излучения – ЭМИ), по эффективности их применения в качестве источника сигнала в техническом канале утечки информации (ТКУИ).
Новый выпуск научного журнала НИЯУ МИФИ «Безопасность информационных технологий» (№ 2, 2026) доступен на сайте издания. Издание входит в Перечень ВАК и «Белый список» научных журналов.
Помимо авторов из НИЯУ МИФИ и СарФТИ НИЯУ МИФИ в выпуск вошли статьи исследователей из НИЦ «Курчатовский институт» – НИИСИ, АО «Айсорс», ПАО «Газпром нефть», АНО «Открытые системы автоматизации», Финансового университета при Правительстве РФ, НИУ МИЭТ, СПбПУ Петра Великого, Военной академии войсковой ПВО ВС РФ им. Маршала Советского Союза А.М. Василевского, НИУ «МЭИ», ТГУ, НИИ нейронаук и медицины (НИИНМ), ИЦиГ СО РАН, НГУ, ДВГУПС, ВЦ ДВО РАН, ПАО «Сбербанк», МГЛУ, РТУ МИРЭА, АО «Инфосистемы Джет».
В выпуске — статьи, посвящённые следующим исследованиям:
— Вызовы при организации АСУ ТП на открытых архитектурах в контексте информационной безопасности – НИЦ «Курчатовский институт» – НИИСИ, АО «Айсорс», ПАО «Газпром нефть», АНО «Открытые системы автоматизации», Финансовый университет при Правительстве РФ
— Температурная зависимость туннельного тока в оксиде кремния – НИУ МИЭТ
— Метод аналитической оценки частоты одиночных сбоев от галактических космических лучей в цифровой электронике – НИЯУ МИФИ
— Оценка применения источников электромагнитного излучения в качестве источника сигнала в техническом канале утечки информации – СарФТИ НИЯУ МИФИ
— Исследование хаотического излучения полупроводникового лазера при оптической инжекции – ДВГУПС.
Эти и другие статьи нового номера БИТ доступны по ссылке.
- О журнале
«Безопасность информационных технологий» — научный журнал, посвящённый вопросам информационной безопасности, а также моделирования, проектирования, разработки и испытаний электронной компонентной базы вычислительных систем. В издании рассматриваются как технологические, так и организационно-правовые и образовательные аспекты этой области.
Журнал издаётся НИЯУ МИФИ с 1994 года и выходил регулярно четыре раза в год. С 2026 года журнал будет выходить шесть раз в год. Входит в Перечень ВАК (категория К2) ведущих рецензируемых научных журналов и изданий, в которых публикуются основные результаты диссертаций на соискание учёных степеней по специальностям 2.2.2, 2.3.5 и 2.3.6, а также включён в Единый государственный перечень научных изданий («Белый список», уровень 3).
Информация о других научных изданиях НИЯУ МИФИ представлена на сайте университета.
Использован источник https://mephi.ru/press/news/25865