461 просмотров

Перспективы сканирующей зондовой микроскопии обсудили в Екатеринбурге на международной конференции. Сотрудник СарФТИ выступил с приглашенным докладом

Кандидат физико-математических наук, доцент кафедры общей физики СарФТИ НИЯУ МИФИ Максим Евгеньевич Докукин принял участие в объединённой международной конференции SPM-2019-RCWDFM.

Объединённая конференция проходила с 25 по 28 августа 2019 года на базе Уральского федерального университета имени первого Президента России Б.Н. Ельцина (УрФУ) и Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» УрФУ в городе Екатеринбурге.

Конференция SPM-2019-RCWDFM объединила в своем формате сразу три научных мероприятия:
III Международная конференция “Сканирующая зондовая микроскопия” – 3rd International Conference “Scanning Probe Microscopy” (SPM),
IV Русско-Китайский семинар по диэлектрическим и сегнетоэлектрическим материалам – 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials (RCWDFM),
Международная молодежная конференция “Функциональная визуализация наноматериалов” – International Youth Conference «Functional Imaging of Nanomaterials».

В работе совместной конференции участвовало более 200 человек из 14 стран мира. Россию представляли специалисты, ученые, представители предприятий и студенты из 24 городов страны. Всего в конференции было представлено 42 приглашенных (из них 8 пленарных), 42 устных и 150 стендовых докладов. Официальными языками конференции стали русский и английский. Труды конференции планируется опубликовать в реферируемых журналах.

Научное мероприятие состоялось при организационной поддержке Уральского федерального университета имени первого Президента России Б.Н. Ельцина, Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» Уральского федерального университета, а также группы компаний: Taylor & Francis, Crystals journal, NT-MDT Spectrum Instruments, SPECS, OSTEC, OPTEC, INTERTECH Corporation, MTEON, Promenergolab и IMC.

Максим Евгеньевич Докукин выступил на III Международной конференции “Сканирующая зондовая микроскопия” с приглашенным докладом на тему возможностей применения сканирующей зондовой микроскопии как инструмента для исследования и детектирования клеточных патологий и болезней: “AFM adhesion imaging as a prospective tool in the detection of cell’s abnormalities and diseases”. Трехдневная конференция была посвящена вопросам, связанным с современным состоянием и перспективами развития различных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) в разных областях науки. Основная тематика — использование СЗМ в материаловедении, биологии и медицине, зондовой литографии, обработке данных.

Доклад сотрудника СарФТИ прошел очень успешно, автору поступило большое количество вопросов, состоялось обсуждение по теме доклада и актуальной информации. Участие в конференции — это отличная возможность для ученого нашего института рассказать коллегам о своих разработках, поделиться опытом и наладить контакты со специалистами этой области из других российских городов и стран-участниц.

В ходе работы SPM-2019 ее участники заслушали многочисленные доклады делегатов из разных стран, а также установили немало полезных связей. Благодаря участию в конференции представителя СарФТИ НИЯУ МИФИ институт получил предварительные договоренности о сотрудничестве по направлению сканирующей зондовой микроскопии и проведении совместных исследований с группами из Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» Уральского федерального университета, Физико-технического института имени А.Ф. Иоффе РАН и Московского государственного университета им М.В. Ломоносова. Такое сотрудничество будет содействовать развитию междисциплинарных исследований.

Официальный сайт конференции: https://nanocenter.urfu.ru/spm2019rcwdfm